兩種測(cè)量模式：數(shù)字化或積分

    2651A型可選擇數(shù)字化或積分測(cè)量模式，用于對(duì)瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為進(jìn)行精密特性分析。兩個(gè)獨(dú)立的模/數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器定義每種模式——一個(gè)用于電流，另一個(gè)用于電壓，可同時(shí)用于精密電源讀回，不會(huì)影響測(cè)試效率。

    數(shù)字化測(cè)量模式的18位A/D轉(zhuǎn)換器能夠以1微秒每點(diǎn)進(jìn)行連續(xù)采樣，每秒可捕獲多達(dá)100萬(wàn)個(gè)讀數(shù)，使其成為波形捕獲及高精度測(cè)量瞬態(tài)特征的最佳選擇。而競(jìng)爭(zhēng)方案必須通過(guò)對(duì)多個(gè)讀數(shù)進(jìn)行平均來(lái)產(chǎn)生一次測(cè)量結(jié)果，并且往往不能測(cè)量瞬態(tài)行為。

    積分測(cè)量模式基于22位A/D轉(zhuǎn)換器，優(yōu)化了儀器在需要最高可能測(cè)量準(zhǔn)確度和分辨率應(yīng)用中的工作性能。這樣可確保精密測(cè)量新一代器件中的極小電流和電壓。全部2600A系列儀器均具有積分測(cè)量工作模式。

    寬動(dòng)態(tài)范圍適用于更寬范圍的應(yīng)用

    通過(guò)TSP-Link并聯(lián)兩個(gè)2651A單元，可將系統(tǒng)的電流量程從50A提高至100A。這比最接近的競(jìng)爭(zhēng)方案高兩倍半至五倍。兩個(gè)單元串聯(lián)時(shí)，電壓量程可從40V提高至80V。全部2600A系列儀器中的嵌入式測(cè)試腳本處理器(TSP?)使用戶能夠?qū)⒍鄠€(gè)單元作為單臺(tái)儀器進(jìn)行尋址，使其一致動(dòng)作，從而簡(jiǎn)化測(cè)試。2651A型的內(nèi)置觸發(fā)控制器能夠以500納秒同步所有鏈接通道的工作。2651A型的這些功能提供了業(yè)內(nèi)可用的最寬動(dòng)態(tài)范圍，使其非常適合于各種大電流、大功率測(cè)試應(yīng)用，包括：

    ?功率半導(dǎo)體、HBLED和光器件特性分析和測(cè)試

    ?GaN、SiC及其他復(fù)合材料和器件的特性分析

    ?半導(dǎo)體結(jié)溫特性分析

    ?可靠性試驗(yàn)

    ?高速、高精度數(shù)字化

    ?電遷移研究

    高速脈沖防止測(cè)試期間器件自熱

    為了將器件在測(cè)試期間的自熱（這也是大功率半導(dǎo)體和材料的普遍問(wèn)題）降至最小，2651A型提供了高速脈沖功能，使用戶能夠以高準(zhǔn)確度源出和測(cè)量脈沖。脈寬從100μs至DC、占空比從1%至100%可編程。而競(jìng)爭(zhēng)方案通常受限于儀器占空比編程靈活性。